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TERA Ohmmeter TOM 610-TF重錘式電阻測(cè)試儀根據(jù)電壓測(cè)量方法工作。為了根據(jù)已建立的標(biāo)準(zhǔn)（例如DIN EN 61340或EOS-ESD 4.1 / 6.1）進(jìn)行測(cè)量，可以使用內(nèi)部計(jì)時(shí)器設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的測(cè)量時(shí)間。 -OFF”-時(shí)間可以測(cè)量。測(cè)試電壓：10VDC、100VDC、500VDC、1000VDC,10~1000VDC擊穿測(cè)試：擊穿電壓、擊穿前電阻、擊穿后電阻、1000VDC

更新日期：2024-12-31

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TERA-Ohmmeter TOM 100表面電阻測(cè)試儀內(nèi)部電阻為100kΩ，因此無(wú)需切換測(cè)量電壓！測(cè)量電極由 100mm x 100mm的塑料 板和鋁制支架組成，鋁制支架上的導(dǎo)電橡膠帶相距100mm。顯示時(shí)間超過(guò)10小時(shí)。 發(fā)光二極管。由于測(cè)量電極的重量增加了2kg，因此可隨時(shí)進(jìn)行可重復(fù)的測(cè)量。

更新日期：2024-12-31

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美國(guó)SCS 73627GP重錘式高低電阻測(cè)試儀套件，由SCS73627測(cè)試表，19249測(cè)試表，測(cè)試電極構(gòu)成，可用于測(cè)試物體靜電電阻，設(shè)備接地電阻，高電阻量程（SCS73627測(cè)試表）：103?~1012?，LCD數(shù)顯+LED指示，高電阻測(cè)試電壓（SCS73627測(cè)試表）：10V，100V，低電阻量程（19249測(cè)試表）：1?, 2?, 10?，LED指示+聲音

更新日期：2024-12-31

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美國(guó)SCS-73627重錘式電阻測(cè)試儀測(cè)試點(diǎn)到點(diǎn)電阻，表面電阻，接地電阻，體積電阻,符合IEC61340-2-3，ESD TR53，ANSI/ESD S4.1/7.1，ANSI/ESD STM2.1/12.1/97.1, ESD SP9.2規(guī)范,測(cè)試電壓：10V/100V（自動(dòng)，小于106?采用10V，大于等于106?采用100V）OLED數(shù)顯和LED指示燈，指數(shù)表達(dá)方式

更新日期：2024-12-31

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美國(guó)SCS 770760重錘式電阻測(cè)試儀最多可存儲(chǔ)和調(diào)用100個(gè)測(cè)量值。捕獲電阻，溫度，濕度和測(cè)試電壓。符合ANSI / ESD S20.20電阻測(cè)試要求，以進(jìn)行產(chǎn)品鑒定和合規(guī)性驗(yàn)證,符合TR53，ANSI / ESD STM97.1和其他文件的電阻測(cè)量要求,大型OLED顯示器顯示電阻尾數(shù)和指數(shù)，溫度，相對(duì)濕度和測(cè)試電壓

更新日期：2024-12-31

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美國(guó)DESCO 19290 重錘式表面靜電阻測(cè)試儀測(cè)試點(diǎn)到點(diǎn)電阻，表面電阻，接地電阻，根據(jù)ESD協(xié)會(huì)文件（ESD TR53，ANSI）測(cè)量工作表面，地板系統(tǒng)，服裝，包裝和其他材料的點(diǎn)對(duì)點(diǎn)（Rtt）和對(duì)地電阻（Rtg） / ESD S4.1，ANSI / ESD S7.1，ANSI / ESD STM97.1等測(cè)試電壓：10V/100V（自動(dòng)，小于106?采用10V，大于等于106?采用100V）

更新日期：2024-12-31

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美國(guó)SCS CTM051接地阻抗測(cè)試儀是一款驗(yàn)證設(shè)備關(guān)鍵接地參數(shù)測(cè)量對(duì)交流電壓，直流電壓，EMI電壓和交流阻抗，符合ANSI / ESD S20.20對(duì)交流阻抗的要求，適用于電子、半導(dǎo)體、光電、電機(jī)行業(yè)測(cè)試阻抗、交/直流電壓、EMI干擾電壓，阻抗測(cè)試，不受EMI干擾，可以正確測(cè)試帶電線路，不會(huì)導(dǎo)致電路燒毀或引起跳閘事故

更新日期：2024-12-31

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EMIT 50571 靜電充電板監(jiān)測(cè)儀770004：和50571同一產(chǎn)品，SCS品牌，含美式插頭電源線，770005：和50571同一產(chǎn)品，SCS品牌，不含電源線，EMIT和SCS均為DESCO子品牌，確保在制造中滿足ESD工藝要求，并符合ANSI / ESD S20.20和ANSI / ESD STM 3.1的EN 61340-5-1測(cè)試要求

更新日期：2024-12-31

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